专利名称：一种基于深度学习TEM图像分割的粒径分析方法专利类型：发明专利发明人：刘淑慧,刘伟
申请号：CN202010778762.X申请日：20200805公开号：CN111899274A公开日：20201106
摘要：本发明提供一种基于深度学习TEM图像分割的粒径分析方法，包括以下步骤：S1：准备数据集，对数据集中的图像待进行标注，按一定的比例将已标注的图像分为训练集和验证集；S2：构建深度学习神经网络架构，采用训练集对深度学习神经网络架构进行训练，采用验证集数据验证深度学习神经网络架构性能，然后将训练好的深度学习神经网络架构和参数进行储存；S3：利用步骤S2得到的深度学习神经网络架构对待分析图像进行语义分割；S4：针对处理后的语义分割图像中颗粒的直径进行直方图统计，将直方图作为纳米颗粒粒径分析的结果。本发明解决了现有技术中利用人工标记与测量TEM图像中纳米颗粒直径，费时耗力且不准确的问题。
申请人：大连交通大学
地址：116028 辽宁省大连市沙河口区黄河路794号
国籍：CN
代理机构：大连东方专利代理有限责任公司
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