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一种基于P型外延的JCD集成器件及其制备方法[发明专利]

2021-11-02 来源:爱问旅游网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种基于P型外延的JCD集成器件及其制备方法专利类型:发明专利

发明人:李泽宏,蒲小庆,杨尚翰,王志明,任敏,张金平,高巍,张

申请号:CN201811593444.5申请日:20181225公开号:CN109671706A公开日:20190423

摘要:本发明涉及一种基于P型外延的JCD集成器件及其制备方法,属于功率半导体集成技术领域。本发明通过以下主要工艺步骤:制备衬底;形成N+埋层;生长P型外延层;形成穿通隔离区;制备场氧;N阱注入、推阱;P阱注入、推阱;JFET的栅极N型区注入、推结;制备栅氧和多晶硅;N+注入;P+注入;制备欧姆孔;退火激活;淀积并刻蚀金属层,将PJFET﹑CMOS﹑nLDMOS和(或没有)Poly电阻和Poly二极管、Poly电容、阱电阻集成在同一芯片上。本发明高低压器件兼容性好,隔离效果好,掩模版次少。JFET具有高精度模拟特性、输入阻抗大、高速、抗辐照特性好等优点,实现了低压JFET器件与高压控制DMOS部分、低压逻辑CMOS部分的集成,可应用于电源管理IC、保护类电路和集成运放的工艺设计中。

申请人:电子科技大学

地址:611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

国籍:CN

代理机构:成都点睛专利代理事务所(普通合伙)

代理人:葛启函

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