专利名称：散射参数测试系统及方法专利类型：发明专利发明人：李明超,苏国生申请号：CN201811496134.1申请日：20181207公开号：CN109521281A公开日：20190326
摘要：本申请公开一种散射参数测试系统及方法，散射参数测试系统包括用于分别连接待测射频模块和测试仪的测试模块；测试模块包括传输结构、测试连接件和短路件；传输结构包括第一连接部、第二连接部以及连接在第一连接部和第二连接部之间的测试电路；测试连接件的第一端连接第一连接部，第二端连接测试仪；短路件的一端连接第二连接部；待测射频模块的一端连接第一连接部，另一端连接测试仪。可方便快速的测试一体化集成产品中各个射频模块的散射参数；而无需制作及使用各个待测模块的专用测试工装，不必先单独测完各个待测模块的参数，之后将各个待测模块组装焊接在一起；可大大简化生产工序，并且测试过程简单，操作方便，进而提高生产效率。
申请人：京信通信系统(中国)有限公司,京信通信技术(广州)有限公司,京信通信系统(广州)有限公司,天津京信通信系统有限公司
地址：510663 广东省广州市广州经济技术开发区广州科学城神舟路10号
国籍：CN
代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人：冯右明
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