专利名称：一种磁体外观缺陷检测的方法及系统专利类型：发明专利发明人：黄甦,何金洲
申请号：CN201810598088.X申请日：20180612公开号：CN108776966A公开日：20181109
摘要：本发明公开了一种磁体外观缺陷检测的方法及装置，首先对待检测磁体图像进行二值化处理，其次对经过二值化处理后的磁体图像进行特征提取，并根据提取到的图像特征，确定待检测磁体的缺陷类型、缺陷位置以及缺陷大小。最后，根据待检测磁体的缺陷位置以及缺陷大小，确定待检测磁体是否合格。从而对符合工艺要求的产品进行准确、快速的识别，减少由于采用同一识别标准而造成的误识别。
申请人：成都银河磁体股份有限公司
地址：611731 四川省成都市高新区西区百草路6号
国籍：CN
代理机构：四川力久律师事务所
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