专利名称：一种集成芯片的电路测试装置专利类型：发明专利发明人：沈红艳
申请号：CN201810361613.6申请日：20180420公开号：CN108535633A公开日：20180914
摘要：本发明公开了一种集成芯片的电路测试装置，包括固定底板，所述固定底板上端面的右侧设置有一智能传送机构，所述智能传送机构上方设置有一主机箱，所述主机箱内部的右侧设置有一测试控制器，所述升降套筒下端穿出升降槽的开口处且连接有一检测连接装置，所述主机箱左端面的下端固定连接有一向左延伸的连接板，所述固定底板上端面的中间位置处设置有一回收箱。本发明工作中，通过测试控制器控制检测过程中的设备运转，能够数据化的收集检测信息，然后通过显示面板显示，便于检测过程中的数据观察以及数据的智能保存，避免了人工辨别与记录过程中的人为因素干扰，增强了装置的防错功能，检测、筛选、分离通过同一装置完成，节约的设备成本，增加了工作效率。
申请人：福州市星旺成信息科技有限公司
地址：350000 福建省福州市鼓楼区五四路国际大厦十七层C座
国籍：CN
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