专利名称：一种晶片电容的高效测试设备专利类型：实用新型专利发明人：唐杰祥,梁秀刚,袁中东申请号：CN202021089502.3申请日：20200612公开号：CN212301757U公开日：20210105
摘要：本实用新型涉及电子元器件技术领域，尤其涉及一种晶片电容的高效测试设备。它包括控制器，与控制器依次连接的振动送料机构、吸料机构、转位机构、测试机构以及排料分仓机构，所述的振动送料机构、吸料机构、转位机构、测试机构以及排料分仓机构还分别与相应的驱动气缸相连，所述的转位机构包括复式转盘，所述的复式转盘采用卧式水平布局，在复式转盘的正面周边均匀开有槽孔，槽孔底端开有槽洞，在槽洞的孔底部镶上作为下电极的银合金层；所述的银合金层上开有与槽洞相通小孔，所述的小孔下端设有将晶片电容吸附定位的真空槽，所述的小孔与真空槽相通。整个工作过程运转顺畅，大大地提高了生产效，晶片电容也不与其它工件产生摩擦，不会有刮伤。
申请人：肇庆华鑫隆自动化设备有限公司
地址：526114 广东省肇庆市高要区莲塘镇莲江公路旁
国籍：CN
代理机构：广州粤高专利商标代理有限公司
代理人：杨利娟
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