（12）实用新型专利
（21）申请号 CN201620795289.5 （22）申请日 2016.07.27
（71）申请人 深圳市华讯方舟微电子科技有限公司;华讯方舟科技有限公司
地址 518102 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区37栋2楼东
（10）申请公布号 CN205861729U
（43）申请公布日 2017.01.04
（72）发明人 高琳;王永康;丁庆
（74）专利代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 吴平
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
芯片测试夹具及芯片测试系统
（57）摘要
本实用新型涉及一种芯片测试夹具，包括
底座及微调结构；所述底座设有容纳结构；所述容纳结构用于放置校准件及芯片托板，且能够使所述校准件与所述芯片托板相接触；所述芯片托板表面用于焊接待测微波芯片；所述微调结构安装于所述底座上，且所述微调结构用于调节并固定所述校准件及芯片托板的位置。因此，该芯片测试夹具及芯片测试系统通过容纳结构及微调结构即可对校准件及芯片托板的位置进行调节并固
定。那么在校准件与芯片托板上的待测微波芯片对准并使得校准件与芯片托板固定后，无需人手动操作即可使校准件与待测微波芯片之间保持固定的状态，从而可以避免人手动操作而发生颤抖的现象，进而提高了测试的精确度，也能避免对微波芯片造成损伤。
法律状态
法律状态公告日2017-01-04
法律状态信息
授权
法律状态
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权利要求说明书
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说明书
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