长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN201310197507.6 （22）申请日 2013.05.24 （71）申请人 上海空间电源研究所

地址 200245 上海市闵行区东川路2965

（10）申请公布号 CN104182603A

（43）申请公布日 2014.12.03

（72）发明人 孔雷星;陈波;乔卫新;马季军;冷学敏 （74）专利代理机构 上海航天局专利中心

代理人 冯和纯

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法

（57）摘要

本发明的长寿命、高可靠电子产品可靠性

评估方法包括以下步骤：寻找电子产品的最薄弱功能模块；设计加速退化试验；数据统计分析；以及确定可靠性模型；所述数据统计分析具体为：通过数据折算将步进加速退化数据转化成恒定应力加速退化数据；利用恒定应力加速退化数据拟合得到性能退化轨迹；根据性能失效阈值和性能退化轨迹得到伪失效寿命，将每个应力水平所对应的伪失效寿命数据进行分布假设检验，以

确定伪失效寿命数据服从的分布函数；确定加速模型。本发明的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法解决了试验样本短缺，试验时间有限的问题，有效提高了电子产品的试验效率，同时缩短了电子产品的可靠性评估时间。

法律状态

法律状态公告日

2014-12-03 2014-12-03 2015-05-27 2015-05-27 2018-01-19

法律状态信息

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效

发明专利申请公布后的视为撤回

法律状态

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效

发明专利申请公布后的视为撤回

权利要求说明书

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说明书

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