专利名称：一种测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质专利类型：发明专利发明人：郝振宇,李博,王强申请号：CN201911275696.8申请日：20191212公开号：CN111090588A公开日：20200501
摘要：本申请涉及一种测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测试链路上待测试接口的输入参数和输出参数，所述待测试链路包括待测试接口；当所述输出参数符合预设条件时，将所述输入参数录制为入参文件；根据所述待测试链路所有待测试接口的入参文件，得到所述待测试链路对应的入参集合。该技术方案通过对测试链路中每一个待测试接口的输出参数进行录制，从而得到待测试链路的入参集合。以此种方式不再需要测试人员手动收入参数，降低了测试人员的工作量，与手动输入参数相比减少了测试时长。
申请人：京东数字科技控股有限公司
地址：100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室
国籍：CN
代理机构：北京华夏泰和知识产权代理有限公司
代理人：张丽颖
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