专利名称：一种基于BIT技术的分析与诊断测试系统专利类型：发明专利
发明人：苏东泽,信朝阳,乔道鹏申请号：CN201810776331.2申请日：20180716公开号：CN108646639A公开日：20181012
摘要：本发明提供了一种基于BIT技术的分析与诊断测试系统，包括：测试模块、控制模块、计算机模块、存储模块；测试模块测试被测对象，并采集测试数据；存储模块存储内装测试及自诊断系统的诊断信息；控制模块控制测试模块采集数据，并与计算机模块进行信息交互；计算机模块处理接收的测试模块采集的数据，结合存储模块中的诊断信息解析故障信息并定位。与现有测试系统相比，在测试系统中增加了存储模块、计算机模块等，可以进行故障分析，从而将现有的测试系统改进为BIT技术与测试系统同步操作的设备，满足故障特征提取、知识库的建立和推理计算机的实现。另外具有很好的自动化、通用化和智能化的应用，可借鉴设计思路批量推广使用。
申请人：北京电子工程总体研究所
地址：100854 北京市海淀区永定路52号
国籍：CN
代理机构：北京正理专利代理有限公司
代理人：付生辉
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