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电路时延测试方法

2022-01-10 来源:爱问旅游网
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN00136116.3 (22)申请日 2000.12.25

(71)申请人 中国科学院计算技术研究所

地址 100080 北京市海淀区中关村科学院南路6号

(10)申请公布号 CN1361428A (43)申请公布日 2002.07.31

(72)发明人 李华伟

(74)专利代理机构 中科专利商标代理有限责任公司

代理人 朱海波

(51)Int.CI

G01R31/3181;

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

电路时延测试方法

(57)摘要

一种新的可变双观测点的时延测试方法,

建立了可变双观测点的时延测试模型。被测电路的完全时延测试集是由通路集的一个最大线性无关组中每条通路的波形敏化测试图形构成的。对每一个测试,按照可变双观测点的时延测试模型工作的测试仪需要在电路的原始输出采样两次以确定被测通路的传输延时是否在预期的正常范围内,采样的时间对不同的测试是可变的。用该方法实

现一种精确测量的时延测试自动生成系统。

法律状态

法律状态公告日

2001-07-25 2002-07-31 2003-10-29 2009-01-21

法律状态信息

实质审查请求的生效

公开 授权

专利实施许可合同的备案

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公开 授权

专利实施许可合同的备案

权利要求说明书

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说明书

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