专利名称：数字集成电路测试仪器及测试探头专利类型：实用新型专利发明人：陈孝一,余元忠申请号：CN92220274.5申请日：19920915公开号：CN2147548Y公开日：19931124
摘要：一种利用数字集成电路的逻辑状态图和真值表 来观察判断其功能的在线、离线测试方法和测试仪 器，逻辑状态图是三态实时显示的，可测TTL和各 种电源电压的CMOS电路，可以对动态运行的电路 实行瞬态锁定，还能对被测IC进行多点同时双向多 重强迫驱动，有八种触发驱动信号，可实现多种组合， 使被测IC进入任意工作状态。又能用同型号的IC 进行逻辑比较，同时进行逻辑状态的观察和驱动，还 能进行三态离线测试。附有能观察瞬变现象声光显 示的逻辑探头。
申请人：四川大学
地址：610064 四川省成都市九眼桥四川大学
国籍：CN
代理机构：四川大学专利事务所
代理人：韩运浦
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