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MIM电容器的形成方法

2022-09-07 来源:爱问旅游网
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN201310317731.4 (22)申请日 2013.07.25

(71)申请人 上海宏力半导体制造有限公司

地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

(10)申请公布号 CN103390542A

(43)申请公布日 2013.11.13

(72)发明人 赵波

(74)专利代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司

代理人 张亚利

(51)Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

MIM电容器的形成方法

(57)摘要

一种MIM电容器的形成方法,包括:提供

基底;在100-200℃温度范围内,去除所述基底表面的水汽;去除所述水汽后,在所述基底上形成AlCu层;在所述AlCu层上形成介质层;在所述介质层上形成金属层。本发明形成的MIM电容器具有较高的平均击穿电压值,而且MIM电容器各处的击穿电压值相差很小。

法律状态

法律状态公告日

2013-11-13 2013-11-13 2014-05-07 2014-05-07 2014-07-30 2014-07-30 2017-08-18

法律状态信息

公开 公开

专利申请权、专利权的转移 专利申请权、专利权的转移 实质审查的生效 实质审查的生效

发明专利申请公布后的视为撤回

法律状态

公开 公开

专利申请权、专利权的转移 专利申请权、专利权的转移 实质审查的生效 实质审查的生效

发明专利申请公布后的视为撤回

权利要求说明书

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说明书

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